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在電子顯微鏡（電鏡）的微觀探索領域，圖像的清晰性和準確性至關重要。而電鏡防振臺作為保障電鏡穩定運行的關鍵部件，其特殊的結構原理發揮著至關重要的作用。電鏡防振臺的主要目標是隔離外界振動對電鏡的干擾，為電鏡創造一個近乎“靜止”的工作環境。其結構...
Thetametrisis膜厚儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器，具有精密的測量功能和廣泛的應用范圍。以下是Thetametrisis膜厚儀的特點及工作原理：特點：1.高精度測量：儀器采用先進的光學技術和精密的傳感器，能夠實現對薄膜厚度的高精度測量，通常可以達到納米級別的測量精度。2.快速測量：它具有快速測量的特點，可以在短時間內完成對薄膜厚度的測量，提高生產效率和檢測速度。3.非破壞性測量：儀器采用非接觸式測量方式，對被測樣品幾乎沒有破壞性，適用于對薄膜進行精密測量和表征。4....
EVG510-晶圓鍵合機是一種高度靈活的晶圓鍵合系統，可以處理從碎片到200mm的基板尺寸。該工具支持所有常見的晶圓鍵合工藝，例如陽極，玻璃粉，焊料，共晶，瞬態液相和直接法。易于使用的鍵合腔室和工具設計允許對不同的晶圓尺寸和工藝進行快速便捷的重新工具化，轉換時間不到5分鐘。EVG510-晶圓鍵合機特征：1.壓力和溫度均勻性。2.兼容EVG機械和光學對準器。3.靈活的設計和配置，用于研究和試生產。4.將單芯片形成晶圓。5.各種工藝(共晶，焊料，TLP，直接鍵合)。6.可選的渦輪...
Thetametrisis膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機控制的XY工作臺，使其快速、方便和準確地描繪樣品的厚度和光學特性圖。Thetametrisis膜厚儀利用FR-Mic，通過紫外/可見/近紅外可輕易對局部區域薄膜厚度，厚度映射，光學常數，反射率，折射率及消光系數進行測量。Thetametrisis膜厚儀使用優勢：1、實時光譜測量。2、薄膜厚度，光學特性，非均勻性...
單面/雙面掩模對準光刻機支持各種標準光刻工藝，如真空，硬，軟接觸和接近式曝光模式，可選擇背部對準方式。此外，該系統還提供其他功能，包括鍵合對準和納米壓印光刻（NIL）。EVG610提供快速處理和重新加工，以滿足不斷變化的用戶需求，轉換時間不到幾分鐘。其先進的多用戶概念適合初學者到專家級各個階層用戶，非常適合大學和研發應用。EVG單面/雙面掩模對準光刻機特征：1、晶圓/基片尺寸從零碎片到200毫米/8英寸。2、臺式或獨立式帶防振花崗巖臺面。3、敏捷的處理和轉換重新加工。4、分步...
Subnano3D干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光垂直掃描干涉測量(CSI)等技術的基礎上，以其納米級測量準確度和重復性(穩定性)定量地反映出被測件的表面粗糙度、表面輪廓、臺階高度、關鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技術、材料、太陽能電池技術等領域。Subnano3D干涉輪廓儀產品優點：1、美國硅谷研發的核心技術和系統軟件。2、關鍵硬件采用美國、德國、日本等。3、PI納米移...